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工作原理：介質壓力直接作用於陶瓷膜片，正常的壓力使膜片偏移0.025mm,超壓狀態也隻使膜片偏移0.1mm，此時測量膜片貼到了陶瓷支架上，避免了損壞。膜片位移產生的電容量，由與其直接連接的電子部件檢測、放大和轉換為標準信號。
技術特點：采用先進的電子陶瓷技術、無中介液的幹式壓力測量技術、厚膜電子技術、SMT技術和PFM信號傳輸技術。抗衝擊能力強，過壓可達量程的數倍至百倍；穩定性高，每年優於0.1%，可與智能表相媲美。
技術數據：
測量範圍
l 相對壓力：最大0~40MPa，最小0~1KPa
l 絕對壓力：最大0~40MPa，最小0~10KPa
l 負相對壓力：最大－0.1 MPa ~＋2.4MPa，最小－2 KPa ~＋2KPa
允許溫度
l 環境溫度：－30~＋70℃
l 介質溫度：－30~＋80℃（短時可達130℃）
l 貯存溫度：－40~＋85℃
溫度影響
l －20~＋70℃ 0.15%/10K
l －30~－20℃ 0.2%/10K
精度
l 線性度：±0.2%或±0.5%
l 遲滯： 優於0.01/滿量程
l 穩定性：每年優於0.1%
l 安裝位置的影響：任意安裝對零點無影響。
工作電壓
l 12.5~ 36VDC
過程連接
外螺紋：G1/2A或M20×1.5
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